Testy: Zápis CD-R/RW, kvalita, overburn
Kapitoly článků
CD-R
CD-R zapisuje rychlostí 4×, 10× a 16× CLV, maximum je 24× Z-CLV. Při ostrém zápisu je aktivní technologie pro optimální zápis.
CD-RW
Mohou být použita i média označená CD-RW Ultraspeed+ pro rychlost 32×. Asus na ně zapisuje svým maximem, 24×. Stejnou rychlost nabízí i na CD-RW Ultraspeed, možná je také rychlost zápisu 16×. Na HighSpeed CD-RW zapisuje 10× a 4×, na Normal CD-RW pouze rychlostí 4×.
Overburn
Pro zjištění maximální hranice overburnu je použit test v CD DVD Speed a Multidisc Supergreen 99 minut. Maximální možný overburn je 94:58.11.
Kvalita zápisu CD-R
Q-Check Beta/Jitter Test
Pro Q-Check měření používáme CD-R Taiyo Yuden od firmy Terra Brno. CD-R jsou zapsána v programu CD DVD Speed pro DAE Quality Test.
Křivka Beta má vzorový průběh, Jitter v příznivých mezích.
Q-Check C1/C2 (74 min. Audio)
Kvalita zápisu na CD-R Taiyo Yuden je výborná. Bez C2 chyb s BLER do 10.
Q-Check C1/C2 (80 min. data)
Taiyo Yuden vždy s nízkou zátěží C1 chyb, závažnější C2 a CU se nevyskytují ani na discích jiných výrobců. Nejhorších výsledků bylo dosaženo s CD-R SHIVAKI 52×.
BLER (Block Error Rate) definuje počet bloků za sekundu obsahujících zjistitelné chyby na vstupu C1 dekodéru. Zejména podle toho je posuzována kvalita disku. Specifikace Red Book (IEC 908) požaduje maximum BLER 220 za sekundu průměrně v 10 po sobě jdoucích. Disk s vyšším BLER bude pravděpodobně produkovat nekorigovatelné chyby. V současné době je za nejkvalitnější disk považován s BLER pod 10. Nízké hodnoty BLER naznačují vhodnou geometrii pitů. Špičky dosahující hodnoty 100 chyb v bloku za sekundu jsou považovány za přijatelné pro CD-ROM, průměr BLER 50 za sekundu nad celým diskem nasvědčuje na neporušenost údajů. BLER sice oznámí vygenerovaný počet chyb za sekundu, to ale nenapoví nic o závažnosti chyb. Je důležité brát v úvahu všechny druhy chyb (E11, E21, E31, E12, E22 a E32). Disk nemusí být dobrý, pokud má nízký BLER. Někdy je na disku mnoho nekorigovaných chyb (C2) způsobených místními defekty. Jen chyby C1 jsou považovány za náhodné. Za závažnější shluky chyb, způsobené místním defektem jsou považovány E22 (C2) a E32 (CU).