Testy: Zápis CD-R/RW, overburn, kvalita
Kapitoly článků
Zápis CD-R 700 MB
Svou maximální rychlostí zapisuje způsobem Z-CLV. 700 MB zapíše za 6 minut.
Zápis na CD-RW Ultra Speed 24×@16×
CD-RW pro rychlost zápisu 32× lze použít, UJ-846-B na něj zapisuje svou maximální rychlostí. 16× zapisuje i CD-RW Ultra Speed. Opět Z-CLV metodou.
Overburn
99:26.29 je maximální kapacita, jakou dokáže Panasonic na 99 min. CD-R Multidisc Supergreen zapsat.
Kvalita zápisu CD-R
Jak testujeme
Kvalita vypálení CD-R médií se testuje na CD-R Taiyo Yuden (od Bell Technology obchodním názvem Emgeton Oxygen Surface). Na něj se nechá v programu CDspeed vypálit testovací CD. Pomocí tohoto nahraného média se následně měří také Advanced DAE quality check. Pro měření kvality používáme mechaniku Plextor PX-712A a program PlexTools vždy v nejaktuálnější verzi. Grafy které pak vidíte, najdete pod označením Q-Check Beta/Jitter a Q-Check C1/C2.
Q-Check Beta/Jitter Test CD-R Taiyo Yuden
Q-Check C1/C2 Test CD-R Taiyo Yuden
Zápis CD-R je v dobré kvalitě. Závažnější chyby se nevyskytují, BLER je mírně zvýšený mezi 40 a 60 minutou.
BLER
BLER (Block Error Rate) definuje počet bloků za sekundu obsahujících zjistitelné chyby na vstupu C1 dekodéru. Zejména podle toho je posuzována kvalita disku. Specifikace „Red Book“ (IEC 908) požaduje maximum BLER 220 za sekundu průměrně v 10 po sobě jdoucích blocích. Disk s vyšším BLER bude pravděpodobně produkovat nekorigovatelné chyby. V současné době je za nejkvalitnější disk považován s BLER pod 10. Nízké hodnoty BLER naznačují vhodnou geometrii pitů. Špičky dosahující hodnoty 100 chyb v bloku za sekundu jsou považovány za přijatelné pro CD-ROM, průměr BLER 50 za sekundu nad celým diskem nasvědčuje na neporušenost údajů.
BLER sice oznámí vygenerovaný počet chyb za sekundu, to ale nenapoví nic o závažnosti chyb. Je důležité brát v úvahu všechny druhy chyb (E11, E21, E31, E12, E22 a E32). Disk nemusí být dobrý, pokud má nízký BLER. Někdy je na disku mnoho nekorigovaných chyb (C2) způsobených místními defekty. Jen chyby C1 jsou považovány za náhodné. Za závažnější shluky chyb, způsobené místním defektem jsou považovány E22 (C2) a E32 (CU).