Testy: Zápis CD-R/RW, overburn, kvalita
Kapitoly článků
Zápis CD-R 700 MB 48×
Svou maximální rychlostí zapisuje způsobem CAV. 700 MB zapíše za 2:37.
Zápis na CD-RW Ultra Speed+ 32×
Overburn
Zjištěno 100:25.22. Téměř stejná hodnota, jakou dokáže zapsat LH-18A1H (100:24.25).
Jak testujeme
Kvalita vypálení CD-R médií se testuje na CD-R Taiyo Yuden (od Terra Brno). Na něj se nechá v programu CDspeed vypálit testovací CD. Pomocí tohoto nahraného média se následně měří také Advanced DAE quality check. Pro měření kvality používáme mechaniku Plextor PX-712A a program PlexTools vždy v nejaktuálnější verzi. Grafy které pak vidíte, najdete pod označením Q-Check Beta/Jitter a Q-Check C1/C2.
Q-Check Beta/Jitter Test CD-R Taiyo Yuden
Q-Check C1/C2 Test CD-R Taiyo Yuden
S absencí závažnějších C2 chyb lze každé médium považovat za kvalitní. LiteOn LH-20A1S C2 chyby nepáchá na žádný z testovaných CD-R. Výskyt běžných C1 je úměrný kvalitě použitého materiálu. Na CD-R Verbatim zapisuje v podobné kvalitě jako na obtížněji identifikovatelné (při nákupu) CD-R od Taiyo Yuden. Výsledek je podobný s výsledkem dosaženým na LH-18A1H.
BLER
BLER (Block Error Rate) definuje počet bloků za sekundu obsahujících zjistitelné chyby na vstupu C1 dekodéru. Zejména podle toho je posuzována kvalita disku. Specifikace "Red Book" (IEC 908) požaduje maximum BLER 220 za sekundu průměrně v 10 po sobě jdoucích. Disk s vyšším BLER bude pravděpodobně produkovat nekorigovatelné chyby. V současné době je za nejkvalitnější disk považován s BLER pod 10. Nízké hodnoty BLER naznačují vhodnou geometrii pitů. Špičky dosahující hodnoty 100 chyb v bloku za sekundu jsou považovány za přijatelné pro CD-ROM, průměr BLER 50 za sekundu nad celým diskem nasvědčuje na neporušenost údajů.
BLER sice oznámí vygenerovaný počet chyb za sekundu, to ale nenapoví nic o závažnosti chyb. Je důležité brát v úvahu všechny druhy chyb (E11, E21, E31, E12, E22 a E32). Disk nemusí být dobrý, pokud má nízký BLER. Někdy je na disku mnoho nekorigovaných chyb (C2) způsobených místními defekty. Jen chyby C1 jsou považovány za náhodné. Za závažnější shluky chyb, způsobené místním defektem jsou považovány E22 (C2) a E32 (CU).