Testy: Zápis CD-R/RW, overburn, kvalita
Kapitoly článků
Zápis CD-R 700 MB 48×
Zápis na CD-RW Ultra Speed+ 32×
Na CD-RW lze použít 4×, 10×, 16× (CLV), 20×, 24× a 32× (Z-CLV) zápis.
Overburn
Vypalovačky s čipsety MediaTek v tomto měření použitelný údaj obvykle neposkytují, i Asus volá po nastavení větší maximální kapacity. Pro zjištění skutečné hranice overburnu použijeme další měření s fyzickým zápisem.
Maximem je 98:57.25.
Kvalita zápisu CD-R
Jak testujeme
Kvalita vypálení CD-R médií se testuje na CD-R Taiyo Yuden (od Bell Technology obchodním názvem Emgeton Oxygen Surface). Na něj se nechá v programu CDspeed vypálit testovací CD. Pomocí tohoto nahraného média se následně měří také Advanced DAE quality check. Pro měření kvality používáme mechaniku Plextor PX-712A a program PlexTools. Grafy které pak vidíte, najdete pod označením Q-Check Beta/Jitter a Q-Check C1/C2.
Q-Check Beta/Jitter Test
Q-Check C1/C2 Test
Kvalita zápisu CD-R Taiyo Yuden je vynikající, zapisuje bez C2 chyb a výskyt C1 je minimální. BLER je hluboko pod 10.
Q-Check C1/C2 Test CD-R Philips 52×@48×
S méně kvalitním médiem se C2 chyba neobjeví, ale počet C1 je 5× vyšší.
BLER
BLER (Block Error Rate) definuje počet bloků za sekundu obsahujících zjistitelné chyby na vstupu C1 dekodéru. Zejména podle toho je posuzována kvalita disku. Specifikace "Red Book" (IEC 908) požaduje maximum BLER 220 za sekundu průměrně v 10 po sobě jdoucích. Disk s vyšším BLER bude pravděpodobně produkovat nekorigovatelné chyby. V současné době je za nejkvalitnější disk považován s BLER pod 10. Nízké hodnoty BLER naznačují vhodnou geometrii pitů. Špičky dosahující hodnoty 100 chyb v bloku za sekundu jsou považovány za přijatelné pro CD-ROM, průměr BLER 50 za sekundu nad celým diskem nasvědčuje na neporušenost údajů.
BLER sice oznámí vygenerovaný počet chyb za sekundu, to ale nenapoví nic o závažnosti chyb. Je důležité brát v úvahu všechny druhy chyb (E11, E21, E31, E12, E22 a E32). Disk nemusí být dobrý, pokud má nízký BLER. Někdy je na disku mnoho nekorigovaných chyb (C2) způsobených místními defekty. Jen chyby C1 jsou považovány za náhodné. Za závažnější shluky chyb, způsobené místním defektem jsou považovány E22 (C2) a E32 (CU).